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  • bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3
    bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。
    更新日期:2024-12-02訪問量:2802廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
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  • bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200
    bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性,可提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計量方法。該設(shè)備作為可用于計量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。
    更新日期:2024-12-02訪問量:3119廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
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  • 布魯克納米壓痕Hysitron TI 980
    布魯克納米壓痕Hysitron TI 980同時具有靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺行業(yè)系統(tǒng)以數(shù)十年的 Hysitron 技術(shù)創(chuàng)新為基礎(chǔ),在納米力學(xué)特性測試方面提供更高水平的非凡性能、增強的功能和多功能性。Hysitron TI 980 納米壓痕儀是一臺納米力學(xué)測試儀器,在準(zhǔn)確控制、測試帶寬、測試靈活性、適用性、測量可靠性和系統(tǒng)模塊化方面都取
    更新日期:2024-12-02訪問量:2870廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89
    Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 電容傳感技術(shù),繼承了商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。
    更新日期:2024-12-02訪問量:2783廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
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  • TS 77 Select布魯克BRUKER納米壓痕儀
    布魯克BRUKER納米壓痕儀TS 77 Select精選是自動化臺式納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng),可提供同類儀器的性能、多功能和易用性。這種新型測試系統(tǒng)以布魯克的TriboScope電容式傳感器技術(shù)為設(shè)計,在納米至微米尺度上提供可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。TS 77 精選 支持最主流的測試模式,是定量納米壓痕、動態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和高分辨力學(xué)性能成像的高性價比解決方案。
    更新日期:2024-12-02訪問量:2572廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
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