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產(chǎn)品介紹|Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光譜儀

更新時(shí)間:2025-06-10瀏覽:136次

Bruker M4 TORNADO PLUS

用于超輕元素分析的微區(qū)XRF成像光譜儀


更多產(chǎn)品資料,聯(lián)系上海爾迪儀器科技有限公司


M4 TORNADO PLUS能夠檢測、分析從碳(C)到镅(Am)全元素的微區(qū)XRF成像光譜儀。作為久經(jīng)驗(yàn)證、市場的M4 TORNADO微區(qū)XRF分析儀系列的成員,M4 TORNADO PLUS還具備多項(xiàng)創(chuàng)新功能,例如:創(chuàng)新的孔徑管理系統(tǒng)、超高通量脈沖處理器以及靈活的快速更換樣品臺(tái)。


產(chǎn)品特點(diǎn)


·兩個(gè)大面積硅漂移探測器(SDD),配備超輕元素窗口

·高性能X射線管,增強(qiáng)低能量激發(fā)

·超高通量脈沖處理器

·zhuan利孔徑管理系統(tǒng)(AMS)

·快速更換樣品臺(tái)(可選多種樣品支架)

·第二X射線管,配備自動(dòng)四位置準(zhǔn)直器切換裝置(選配)

·可編程氦氣吹掃系統(tǒng)(選配)


產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

·輕元素檢測下限至碳(C)

·提升輕元素檢測效率

·縮短采集時(shí)間,提升分析效率

·高景深設(shè)計(jì),確保表面形貌復(fù)雜樣品成像時(shí)更多特征與細(xì)節(jié)清晰聚焦

·縮短樣品更換與系統(tǒng)準(zhǔn)備時(shí)間

·高能譜線分析靈活性更高

·常壓環(huán)境下實(shí)現(xiàn)輕元素分析性能




儀器亮點(diǎn)


M4 TORNADO PLUS 通過采用配備超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器(SDD)及超高通量脈沖處理器,實(shí)現(xiàn)了對(duì)碳(C)以上輕元素的高效檢測,并大幅提升了采集速度。其zhuan利孔徑管理系統(tǒng)(AMS)可提供景深性能,即使是表面形貌復(fù)雜的樣品也能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)分析。

得益于低能量范圍內(nèi)顯著增強(qiáng)的靈敏度,鈉 (Na)至氯(Cl)元素的檢測性能大幅提升,與入門級(jí)微區(qū)XRF系統(tǒng)相比,典型計(jì)數(shù)率(cps)增幅高達(dá)20倍。

憑借這些性能突破,前沿研發(fā)領(lǐng)域可受益于高速微區(qū)XRF面掃描。



產(chǎn)品規(guī)格


樣品類型 

固體、顆粒、液體

樣品室尺寸

W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm

樣品臺(tái)

W x D: 330 mm x 170 mm, 最大載重: 7 kg

測量氣體

空氣環(huán)境或可調(diào)真空(配備無油泵,約3分鐘可達(dá)2毫巴),可選氦氣吹掃系統(tǒng)

樣品行程

最大行程: W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm

掃描行程: W x D: 190 mm x 160 mm

移動(dòng)速度:采用TurboSpeed樣品臺(tái)時(shí)最高可達(dá)100 mm/s

樣品視圖

雙路實(shí)時(shí)俯視成像系統(tǒng)(不同放大倍率)實(shí)現(xiàn)樣品概覽與精確定位,側(cè)向魚眼鏡頭提供樣品室全景監(jiān)控

激發(fā)

第一X射線管:高亮度、輕元素微焦斑X射線管,配備多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng)和孔徑管理系統(tǒng)(AMS)

靶材:銠(Rh),可選銀(Ag)

管參數(shù):50 kV,30 W

光斑尺寸:使用多導(dǎo)毛細(xì)管透鏡時(shí),≤20μm (Mo Kα @17.5 keV)

濾光片:8種激發(fā)濾光片

可選第二X射線管:細(xì)聚焦X射線管,配備四位置準(zhǔn)直器切換裝置,準(zhǔn)直器尺寸從0.5 mm到4.5 mm

靶材:鎢(W),可選銠(Rh)、鉬(Mo)、銅(Cu)、鉻(Cr)

管參數(shù):50 kV,40 W

濾光片:8種激發(fā)濾光片

探測器

XFlash®超輕元素硅漂移探測器,可檢測從碳(C)到镅(Am)的元素,支持雙探測器 。

敏感區(qū)域面積:2 x 60 mm2;

能量分辨率:< 145 eV(在輸入計(jì)數(shù)率為 600,000 cps 時(shí));

吞吐量:最高可達(dá) 550,000 cps 輸出計(jì)數(shù)率

儀器控制

先進(jìn)的PC,Windows®操作系統(tǒng)

X射線管參數(shù)、濾光片、光學(xué)顯微鏡、樣品照明及樣品定位全面控制

光譜評(píng)估

峰識(shí)別、偽影與背景校正、峰面積計(jì)算、FP定量分析,使用 XMethod 進(jìn)行基于標(biāo)樣和無標(biāo)樣的校準(zhǔn)定量分析

分布分析

“On the fy" 測量,HyperMap功能

結(jié)果呈現(xiàn)

定量分析結(jié)果,統(tǒng)計(jì)評(píng)估,元素分布(線掃描,面掃描)

電源要求

100 - 240 V (1P), 50/60 Hz

尺寸和重量

W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg*

質(zhì)量與安全

DIN EN ISO 9001:2015, CE 認(rèn)證,UKCA 認(rèn)證;全面輻射防護(hù)系統(tǒng);輻射量 < 1 μSv/h


 

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