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更新日期：2024-12-02訪問量：2582廠商性質(zhì)：代理商
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Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE

Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE ——用于幾乎所有先進(jìn)薄膜或產(chǎn)品晶片測量的先進(jìn)多模計量 FilmTek™ 2000標(biāo)準(zhǔn)桿數(shù)-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統(tǒng)結(jié)合了FilmTek技術(shù)，為從研發(fā)到生產(chǎn)的幾乎所有先進(jìn)薄膜測量應(yīng)用提供了業(yè)界的精度、精度和多功能性。其標(biāo)準(zhǔn)的小點測量尺寸和模式識別能力使該系統(tǒng)成為表征圖案化薄膜和產(chǎn)品晶片的理想選擇。

更新日期：2024-12-02訪問量：3225廠商性質(zhì)：代理商
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Bruker FilmTek CD橢偏儀

Bruker FilmTek CD橢偏儀 ——多模態(tài)臨界尺寸測量和先進(jìn)薄膜計量學(xué) FilmTekTM CD光學(xué)臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計節(jié)點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統(tǒng)同時提供已知和*未知結(jié)構(gòu)的實時多層堆疊特性和CD測量。 FilmTek CD利用多模測量技術(shù)來滿足與開發(fā)和生產(chǎn)中最復(fù)雜的半導(dǎo)體設(shè)計特征相關(guān)的挑戰(zhàn)性需求。

更新日期：2024-12-02訪問量：3154廠商性質(zhì)：代理商
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