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Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀xrd購買,找爾迪儀器

更新時間:2025-05-09瀏覽:165次

Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀xrd購買,找爾迪儀器


BrukerD8 ADVANCE 規(guī)格:

功能

規(guī)格

優(yōu)勢

TRIO 光路和TWIN光路

軟件按鈕切換:

馬達驅動發(fā)散狹縫(BB幾何)

高強度Ka1,2平行光束

高分辨率Ka1平行光束

 

可在多達6種不同的光束幾何之間進行全自動化電動切換,無需人工干預

是所有類型的樣品分析的理想之選,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

動態(tài)光束優(yōu)化

動態(tài)同步:

馬達驅動發(fā)散狹縫

馬達驅動防散射屏

可變探測器窗口

2?角度范圍:小于1度至>大于150度

數(shù)據幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響

大大提高了檢測下限,可定量分析少量晶相和非晶相

在較小的2θ角度,可對粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進行精確研究

LYNXEYE XE-T

能量分辨率:<380 eV @ 8 KeV

檢測模式:0D、1D、2D

波長:Cr、Co、Cu、Mo和Ag

 

無需K?濾波片和二級單色器

銅輻射即可100%過濾鐵熒光

速度比傳統(tǒng)探測器系統(tǒng)快450倍

BRAGG 2D模式:使用發(fā)散的初級線束收集2D數(shù)據

探測器保證:交貨時無壞道

EIGER2 R

Dectris 公司開發(fā)的基于混合光子計數(shù)技術的新一代探測器,支持多種模式(0D / 1D / 2D)

在步進掃描、連續(xù)掃描和高級掃描模式中無縫集成0D、1D和2D檢測

符合人體工程學的免對準探測器旋轉功能,可優(yōu)化γ或2?角度范圍

使用完整的探測器視野、免工具全景衍射光束光學系統(tǒng) 

連續(xù)可變的探測器位置,以平衡角度范圍和分辨率

旋轉光管

在線焦斑和點焦斑應用之間輕松快捷地進行免對準切換

無需斷開電纜或水管,無需拆卸管道

DAVINCI設計:全自動檢測和配置聚焦方向

自動進樣器

FLIPSTICK:9個樣品

AUTOCHANGER:90個樣品

在反射和透射幾何中運行

D8 測角儀

帶獨立步進電機和光學編碼器的雙圓測角儀

布魯克準直保證,確保了準確性和精確度

絕對免維護的驅動機構/齒輪裝置,終身潤滑

非環(huán)境條件

溫度:從~85K到~2500K

壓力:10-?mbar至100 bar

濕度:5%至95%

在環(huán)境和非環(huán)境條件下進行研究

DIFFRAC設計助您輕松更換樣品臺

 

基于D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,如:

  • 典型的X射線粉末衍射(XRD)

  • 對分布函數(shù)(PDF)分析

  • 小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)

由于具有出色的適應能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。

無論是新手用戶還是專家用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。

 

應用范圍:

 

相鑒定:材料可靠性鑒別(PMI)最為常見,這是因為其對原子結構十分靈敏,而這無法通過元素分析技術實現(xiàn)。

定量相分析:方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRACTOPAS軟件全譜擬合分析法

非環(huán)境 XRD:可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結果

織構分析:在DIFFRAC.TEXTURE軟件中,使用球諧函數(shù)和組分分析方法,生成極圖、取向分布函數(shù)(0DF)和體積定量分析。

殘余應力分析:在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應力:通過sin2psi方法,使用Cr輻射測量得到。

X射線反射法(XRR):在DIFFRAC.LEPTOS中,對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析。

小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2R500K通過2D模式收集的NIST標樣SRM 80119nm金納米顆粒進行粒度分析。


 

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